UMS高級(jí)超聲材料表征系統(tǒng)采用超聲回波分析法以無(wú)損的方式表征各種材料的力學(xué)性能
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      激光粒度分析儀
    
      納米粒度電位儀系列
    
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      常溫壓電d33測(cè)試儀
    
      磁控離子濺射儀
    
      Energylab XM 電化學(xué)工作站
    
    
    
      VersaSCAN微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
    
      Bruker Hysitron Tl 980納米壓痕儀
    
      IM4000Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)離子研磨儀
    
      材料試驗(yàn)機(jī)
    
    
    
      VibroMet2振動(dòng)拋光機(jī)
    
      CHI760E系列電化學(xué)工作站
    
      GVC-3000熱蒸發(fā)鍍碳儀
    
      1470 celltest電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
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產(chǎn)品分類17710506869
 
UMS高級(jí)超聲材料表征系統(tǒng)采用超聲回波分析法以無(wú)損的方式表征各種材料的力學(xué)性能
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隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展,電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量,而且重視其采集過(guò)程的時(shí)代
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以“更高畫(huà)質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念,開(kāi)發(fā)出TM4000系列
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DimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)專門(mén)設(shè)計(jì),在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性,不帶來(lái)繁瑣操作的前提下,即可實(shí)現(xiàn)快速掃描
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BrukerDimensionlcon”原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來(lái)了全新的應(yīng)用體驗(yàn),具有高水平的性能、功能和配件選擇,其測(cè)試功能強(qiáng)大,操作簡(jiǎn)便易行
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系統(tǒng)配置豐富,高分辨θ/θ閉環(huán)測(cè)角儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、多位自動(dòng)換樣系統(tǒng)、包括多層膜反射鏡平行光系統(tǒng)的全自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)和二維陣列半導(dǎo)體探測(cè)器,配合功能齊全的控制和分析軟件,可在室溫和變溫條件下實(shí)現(xiàn)覆蓋固體粉末、薄...
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