產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索:
激光粒度分析儀
納米粒度電位儀系列
真空封管機(jī)系統(tǒng)
CHI600E系列通用電化學(xué)工作站
微納3D打印機(jī)
常溫壓電d33測試儀
磁控離子濺射儀
Energylab XM 電化學(xué)工作站
VersaSCAN微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
Bruker Hysitron Tl 980納米壓痕儀
IM4000Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)離子研磨儀
材料試驗(yàn)機(jī)
CHI760E系列電化學(xué)工作站
GVC-3000熱蒸發(fā)鍍碳儀
1470 celltest電化學(xué)測試系統(tǒng)
VibroMet2振動拋光機(jī)
當(dāng)前位置:首頁
產(chǎn)品中心
電鏡樣品制備
IM4000Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)離子研磨儀使用低能量Ar離子束,加工無應(yīng)力損傷的樣品截面,為SEM觀察樣品的內(nèi)部多層結(jié)構(gòu)、結(jié)晶狀態(tài)、異物解析、層厚測量等提供有效的樣品前處理方法
更新時(shí)間:2024-11-18
產(chǎn)品型號:IM4000Ⅱ
瀏覽量:798
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質(zhì)量透射電鏡樣品的制備,它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進(jìn)行精確控制
更新時(shí)間:2024-11-18
產(chǎn)品型號:PIPS Ⅱ
瀏覽量:345
AutoMet系列研磨拋光機(jī)專為嚴(yán)苛的生產(chǎn)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境而設(shè)計(jì)
更新時(shí)間:2024-11-18
產(chǎn)品型號:AutoMet 250 Pro
瀏覽量:431
VibroMet2振動拋光機(jī)可通過幾乎水平方向的振動,搭配MasterMet2二氧化硅拋光液使用,可去除樣品表面機(jī)械化制樣后殘留的細(xì)微變形層,從而得到高質(zhì)量的拋光表面,而不必使用電解拋光制備所必需的危險(xiǎn)電解液
更新時(shí)間:2024-11-18
產(chǎn)品型號:VibroMet2
瀏覽量:727
凹坑研磨儀預(yù)先切薄以接近電子透明度的快速可靠的機(jī)械方法,可顯著減少離子研磨時(shí)間和薄度不均現(xiàn)象。
更新時(shí)間:2024-11-18
產(chǎn)品型號:
瀏覽量:590